簡要描述:滲(shen)透(tou)檢驗是(shi)將一(yi)種含有熒光(guang)物(wu)質(zhi)的(de)滲(shen)透(tou)劑(ji)涂(tu)覆在零(ling)件表(biao)面上(shang), 在毛(mao)細(xi)作用(yong)下,滲(shen)透(tou)劑(ji)滲(shen)入表(biao)面的(de)缺(que)(que)陷中去(qu),然后(hou)去(qu)除掉(diao)零(ling)件表(biao) 面上(shang)多(duo)余的(de)滲(shen)透(tou)劑(ji),再在零(ling)件表(biao)面涂(tu)上(shang)一(yi)薄層顯(xian)像(xiang)劑(ji),缺(que)(que)陷中的(de) 滲(shen)透(tou)劑(ji)在毛(mao)細(xi)作用(yong)下重新被吸附到(dao)零(ling)件表(biao)面上(shang)來而形成放大了(le)的(de) 缺(que)(que)陷顯(xian)示(shi),在黑光(guang)燈下(熒光(guang)檢驗法(fa))觀察缺(que)(que)陷顯(xian)示(shi)。滲(shen)透(tou)檢驗 的(de)基本步驟是(shi)滲(shen)透(tou),乳化(hua),清洗,干燥,顯(xian)像(xiang)和檢驗。
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儀器特點: 熒光滲透檢測線 滲透檢驗是將一種含有熒光物質的滲透劑涂覆在零件表面上, 在毛細作用下,滲透劑滲入表面的缺陷中去,然后去除掉零件表 面上多余的滲透劑,再在零件表面涂上一薄層顯像劑,缺陷中的 滲透劑在毛細作用下重新被吸附到零件表面上來而形成放大了的 缺陷顯示,在黑光燈下(熒光檢驗法)觀察缺陷顯示。滲透檢驗 的基本步驟是滲透,乳化,清洗,干燥,顯像和檢驗。 |
A型探頭:馬蹄磁軛角焊縫探頭,活動關節斜面磁頭,配有工作燈;對異形面、形狀復雜工件探傷尤其適用。極距:20-160;提升力:AC≥5,DC≥18。配備一臺電磁軛角焊縫探傷儀,探頭采用活關節可自由調節使用范圍廣。
E型探頭:交叉磁軛探頭或旋轉磁場探頭,可一次*復合磁化探傷,行走滾輪和工作燈可提高探傷速度。極距:110,提升力:AC≥8。配備一臺旋轉磁場探傷儀,兩只交叉的磁軛采用交流電移相技術,使之產生隨時間變化的合成旋轉磁場,對工件一次*復合磁化。探頭速度快、檢測質量高。
D型探頭:電磁軛探頭,多種活動關節,磁化強度大。極距:60-220,提升力:AC≥6,DC≥20。配備一臺電磁軛角焊縫探傷儀,探頭具有導磁高、磁化強度大等特點。
O型探頭:也稱環(huan)形探頭,內(nei)徑:150,中心磁場≥180Oe。配備一臺環(huan)形探傷儀,它是(shi)采用線(xian)圈通電時產生強磁場的(de)原理設計(ji)的(de),適用于軸棒類、管道類、螺栓類等復雜工(gong)件(jian)的(de)分段探傷或退磁。
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